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FLX-2320-R薄膜應力測試儀/日本TOHOPX 1423
WD4000晶圓膜厚測量設備PX 7243
RTS-3型手持式四探針測試儀半導體電阻儀PX 3909
半導體晶圓缺陷檢測儀PX 3157
RTS-9型雙電測四探針鋰電極片電阻測試儀PX 2959
CGSR系列膜厚測量儀PX 1700
KPM AP-D-LeAQUA-PICCOLO手持式皮革水分測試儀PX 3126
MKF1-KW2-20036+428德國福鳥VOGEL測量儀常規型號現貨PX 4082
RM 3000赫爾納供應英國Jandel四探針探頭PX 5724
*YR(40A)直流電阻測試儀PX 3400
HD-2263/ST2263雙電測四探針檢測儀PX 3541
BDST-300C半導材料四探針測試儀PX 3642
半導體晶圓缺陷與少子壽命測試系統-SPM900PX 5194
GBT17643切口恒載拉伸法土工膜應力開裂測試儀PX 5115
SG-OEnlitech CIS/ALS/光傳感器晶圓測試儀PX 2802
MFNA-200福樂FLUORO缺口和定向器PX 3858
KLA Filmetrics R50系列四探針電阻測試儀PX 3338
Full Deposition PSL Wafer校準晶圓標準品-半導體表征PX 2962
愛安德晶圓缺陷185LE L專配鹵素燈杯17V185W現貨PX 3522
襯底電阻率方阻測試儀PX 1842
ZS美國MOUNTZ扭矩測試儀維修PX 4552
GL-SPM-D2T光學薄膜測量儀PX 10024
四探針方阻電阻率測試儀PX 3213
BX-G3487高精度太陽膜透過率測量儀PX 3614
NL-QMS磁控濺射納米顆粒尺寸控制系統PX 2610
PA-110-t晶圓應力雙折射測量儀PX 2716
TC-SLQZ型氣動和真空探針土壤采樣PX 2413
UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測系統PX 7097
LPA12FS-3美國Logosol晶圓預對準器PX 2312
YP-150I-日本YAMADA山田半導體檢查燈--備庫銷售PX 3113
Luminous NA-8000日本ULVAC愛發科半導體灰化裝置NA系列PX 5075
PCD-400AKYOWA共和應力測試儀PCD-400B多功放大器PX 3745
芯片X‘ray檢測設備PX 2638
BXA58超高阻雙電四探針測試儀PX 3014
PZ-332C半導體共面性測量設備PX 6107
BF1200 361200BAMO電導率探針PX 3690
METREL MI3321多功能安規測試儀PX 4099
薄膜應力測量系統PX 2930
Hologenix微米晶圓缺陷檢測系統PX 2136
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薄膜應力測試儀/日本TOHO
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國產晶圓搬運機
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聚乙烯土工薄膜應力開裂測試儀
福樂FLUORO缺口和定向器
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