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WD4000系列晶圓膜厚測量設備可實現砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷
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膜厚測量儀本設備利用反射干涉的原理進行無損測量,測量吸收或者透
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WD4000系列晶圓幾何尺寸量測設備通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌
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本設備利用反射干涉的原理進行無損測量,測量吸收或者透明襯底上薄
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WD4000系列晶圓微觀幾何輪廓測量系統通過非接觸測量,將晶圓的三維
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WD4000晶圓翹曲度幾何量測系統兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹
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WD4000晶圓微觀三維形貌測量系統自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、
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WD4000晶圓微納幾何三維形貌測量系統兼容不同材質不同粗糙度、可測
