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BX-G3477高性能太陽膜測試儀PX 3164
BX-G3472高性能太陽膜測試儀PX 3164
BX-G3466高性能太陽膜測試儀PX 3164
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BX-G3459高性能太陽膜測試儀PX 3164
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BX-G3455多功能隔熱膜測試儀PX 3164
BX-G3454多功能隔熱膜溫度測試儀PX 3164
BX-G3453高性能太陽膜測試儀PX 3164
BX-G3450高性能太陽膜測試儀PX 3164
BX-G3449高性能太陽膜測試儀PX 3164
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UltraFilm薄膜測量系統(tǒng)PX 7110
FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測量系統(tǒng)PX 7110
FR-Ultra晶圓厚度測量系統(tǒng)PX 7110
FR-ES精簡薄膜厚度測量儀PX 7110
FR-Ultra 晶圓厚度測量系統(tǒng)PX 7110
FPTOH-TOHOSPEC3100進口光學薄膜測厚儀PX 3544
FPESS-Photon RT光學鍍膜檢測儀PX 3544
FPTHE-FR-Thermal聚合物薄膜測厚儀,進口膜厚儀PX 3544
FRANG-SR500進口光學膜厚儀PX 3544
NH-3SPs高精度點自動對焦3D測量機PX 0
NH-3Ns光點自動對焦3D形狀高精度測量機PX 0
MLP-3自動對焦3D形狀高精度測量機PX 0
PF-60點自動對焦表面形狀高精度測量機PX 0
SENTECH SENDIRA薄膜計量紅外光譜橢圓儀PX 1950
SENTECH SENpro薄膜計量橢圓光譜儀PX 1950
SENresearch 4.0薄膜計量橢圓光譜儀PX 1950
SENTECH SE 500adv薄膜計量激光橢圓儀PX 1950
FTPadv Expert薄膜計量光譜反射儀軟件PX 1950
FTPadv薄膜計量膜厚探頭PX 1950
RM 1000/RM 2000薄膜計量光譜反射儀PX 1950
FRANG-SR500光學膜厚儀,光學薄膜測厚儀PX 3544
FRANG-SR100光學薄膜測厚儀PX 3544
HM3-50納米級非接觸共焦測厚儀PX 0
HM-A300全自動非接觸光學薄膜厚膜檢測設備PX 0
HM-260AL光學全自動在線流延膜厚測試儀PX 0
SM230自動光學薄膜厚度掃描測繪儀PX 3531
薄膜生長設備
工藝測量和檢測設備
集成電路測試與分選設備
光刻及涂膠顯影設備
熱工藝設備/熱處理設備
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其它半導體行業(yè)儀器設備
晶圓幾何形貌在線測量系統(tǒng)
晶圓膜厚測量設備
膜厚測量儀
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光學膜厚儀
晶圓微觀幾何輪廓測量系統(tǒng)
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晶圓微觀三維形貌測量系統(tǒng)
臺式離線接觸式測厚儀TOF-6R001
芯片半導體晶圓非接觸式光學3D表面輪廓儀
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學儀器有限公司
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