CMD60/65在DECT通信測試領域內的成功經驗充分說明:可靠性測量速度和性能是使一種測試設備在市場上獲得優勢地位的關鍵性指標。在DECT( 數字歐洲無繩) 無線通信網絡中大量的無繩和固定站，必須分享十分有限的頻率時間和空間資源。因此只有制訂嚴格的標準或規范才能保證網絡正常有序的運轉。另一方面標準又要求DECT系統以及系統使用的話機應具有低廉的價格。這一點導致設備結構復雜性和精度受到限制。面對上述相互矛盾的要求用戶只能借助良好的測量技術來保證在不使用復雜設備(與其它數字蜂窩系統相比)的條件下也能讓系統正常運轉。
為了提供給用戶這樣的測試儀器我們充分利用過去開發和生產DECT測量設備(包括信號發生器分析儀通信測試儀和DECT類型許可系統)的經驗，并和許多重要的終端用戶合作開發出適于生產和維修測試各方面指標達到*均衡的新一代數字無線通信測試儀CMD60/65。
- 其它儀器
-
數據分析儀 矢量適配器 射頻參考源 驅動器 銣振蕩器 校準模塊 脈沖分析儀 接收器 電阻計 靜電放電模擬器 光纖切割刀 數據采集器模塊 重涂機 電壓計 耐壓測試儀 應用模塊 功率分配器 恒電位儀 / 恒電流儀 射頻頻率計數器 超級兆歐表 EMI測試接收機 模塊 信號質量分析儀模塊 靜電計 光發射機 偏振綜合儀 多通道系統 光波測試系統 光功率傳感器模塊 短距離接收器模塊 穩壓電源 高速點膠機 光學熱臺 高低溫試驗箱 超高溫熱臺 地質冷熱臺 氣相色譜儀 雙連接閂鎖套件 幀控制器 熔接機 音頻分析儀 雙激光軸板 光電時鐘恢復 光電時鐘恢復模塊 TDA系統 衰減器 噪聲校準儀 可編程曲線跟蹤器 數字萬用表 光衰減器 電模塊 光模塊 光纖熔接機 其它 校準源 半導體與晶體管測試 噪聲與干擾 半導體參數分析儀 協議分析儀
- Agilent/安捷倫
- KEYSIGHT/美國是德
- 其他品牌
- TeKtronix/美國泰克
- R&S/羅德與施瓦茨
- Santec/日本
- EXFO/加拿大
- FLUKE/福祿克
- Anritsu/安立
- Keithley/美國吉時利
- YOKOGAWA/日本橫河
- SRS/斯坦福
- HP/惠普
- FUJIKURA/藤倉
- ADCMT/愛德萬
- 美國力科
- HIOKI/日本日置
- LitePoint/萊特波特
- SUMITOMO/住友
- OLYMPUS/奧林巴斯
- Ceyear/思儀
- KIKUSUI/日本菊水
- BCHP/中惠普
- 古河蓄電池
- Bristol/美國
- SHIMADZU/島津
- ITECH/艾德克斯
- General Photonics
- Newport/美國
- Bruker/布魯克
- SPIRENT/思博倫
- RIGOL/普源
- GWINSTEK/中國臺灣固緯
- SIGLENT/鼎陽
- YINUO/一諾儀器
- Waters/沃特世
- PICOTEST/中國臺灣儀鼎
- UNI-T/優利德
- Ophir
- BIRD/美國鳥牌
- Chroma/致茂
- KEYENCE/基恩士
- AMETEK/阿美特克
- ESPEC/愛斯佩克
- OMRON/歐姆龍
- SPECTRUM/上海光譜
- 中國臺灣博計
- EEC/中國臺灣華儀
- Siemens/西門子
- AP（Audio Precision）/美國
- 同惠電子
- HAMEG/德國惠美
- Nikon/日本尼康
- Hitachi/日立
- TDK-LAMBDA/日本
- OceanOptics/海洋光學
- 常州安柏
- NOISEKEN
- 盛普 SP
- DEIF/丹麥
- Quantum Opus
化工儀器網