測量功能豐富：可測量雙端口器件在頻域內(nèi)的復(fù)數(shù)傳輸和反射特性，通過采樣入射信號，分離出傳輸波和反射波，計算出與雙端口反射系數(shù)和傳輸系數(shù)相關(guān)的比值，從而獲取被測設(shè)備的幅度、相位和群時延響應(yīng)等信息。

頻率覆蓋廣泛：頻率范圍從 130MHz 至 20GHz，能夠滿足眾多射頻和微波器件在該頻段范圍內(nèi)的特性測試需求。

內(nèi)置合成信號源：內(nèi)置快速掃描的集成合成信號源，即使在掃描時，其穩(wěn)定度和精度也處在 10ppm 范圍，可在一定頻率范圍內(nèi)進(jìn)行掃頻，快速獲取感興趣頻段內(nèi)的幅度和相位信息。

S 參數(shù)測試便捷：集成化的轉(zhuǎn)換 S 參數(shù)測試裝置，用一次連接即可測量所有 4 個 S 參數(shù)，全面評估器件性能。

矢量精度增強(qiáng)：內(nèi)置矢量精度增強(qiáng)技術(shù)，對所有通用同軸連接器提供優(yōu)良的誤差修正精度，還可通過用戶定義的標(biāo)準(zhǔn)件進(jìn)行波導(dǎo)校準(zhǔn)，包括色散效應(yīng)。

顯示方式多樣：擁有兩個獨立的顯示通道，數(shù)據(jù)可以以對數(shù)幅度、線性幅度、駐波比、相位、群時延、極坐標(biāo)、實部或史密斯圓圖等多種格式顯示，方便用戶觀察和分析。

數(shù)據(jù)存儲與調(diào)用方便：可直接保存數(shù)據(jù)到外部磁盤驅(qū)動器，也能從外部磁盤驅(qū)動器直接調(diào)用數(shù)據(jù)，方便數(shù)據(jù)的存儲、分析和處理。

自動化與程控功能：通過 HP-IB 總線可由外部計算機(jī)進(jìn)行編程控制，實現(xiàn)自動化測試，提高測試效率。

動態(tài)范圍大：可達(dá) 103dB 的動態(tài)范圍，能夠清晰地分辨不同幅度的信號，對于微弱信號和強(qiáng)信號的測量都能保持較高的精度。

頻率分辨率高：標(biāo)準(zhǔn)頻率分辨率為 100kHz，選件 001 可提供 1Hz 的分辨率，對窄帶或長延遲器件能進(jìn)行精確測量。

掃描速度快：典型情況下，測量的更新時間約為每個測量點 1ms，可迅速完成對被測器件在一定頻率范圍內(nèi)的測量，節(jié)省測試時間。

功率控制精準(zhǔn)：在測量端口上有 + 10dBm 的功率，內(nèi)置步進(jìn)衰減器可以將功率減小到 - 65dBm，功率計校準(zhǔn)功能可在系統(tǒng)任何地方精確調(diào)節(jié)功率電平，功率掃描功能和 0.1dB 的功率分辨率便于對有源器件的增益 - 壓縮特性進(jìn)行測試。