功能特性
測(cè)量功能:主要用于測(cè)量雙端口設(shè)備在頻域內(nèi)的復(fù)數(shù)傳輸和反射特性,通過(guò)對(duì)入射信號(hào)進(jìn)行采樣,分離出傳輸波和反射波,進(jìn)而計(jì)算出與雙端口反射系數(shù)和傳輸系數(shù)直接相關(guān)的比值,可獲取被測(cè)設(shè)備的幅度、相位和群時(shí)延響應(yīng)等信息。
頻率范圍:頻率覆蓋范圍從 130MHz 至 20GHz,能夠滿足眾多射頻和微波器件在該頻段范圍內(nèi)的特性測(cè)試需求。
內(nèi)置合成源:內(nèi)置集成合成信號(hào)源,可提供穩(wěn)定的測(cè)試信號(hào),并且能在一定頻率范圍內(nèi)進(jìn)行掃頻,以便快速獲取感興趣頻段內(nèi)的幅度和相位信息。
S 參數(shù)測(cè)試:配備開(kāi)關(guān)式 S 參數(shù)測(cè)試裝置,可方便地測(cè)量雙端口器件的 S 參數(shù),全面評(píng)估器件的性能。
矢量精度增強(qiáng):內(nèi)置矢量精度增強(qiáng)技術(shù),通過(guò)校準(zhǔn)等手段提高測(cè)量的準(zhǔn)確性,減少測(cè)量誤差。
顯示功能:擁有兩個(gè)獨(dú)立的顯示通道,數(shù)據(jù)可以以對(duì)數(shù)幅度、線性幅度、駐波比、相位、群時(shí)延、極坐標(biāo)、實(shí)部或史密斯圓圖等多種格式顯示,方便用戶根據(jù)需求進(jìn)行觀察和分析。
編程與存儲(chǔ):可通過(guò) HP-IB 總線由外部計(jì)算機(jī)進(jìn)行編程控制,并且具有直接保存數(shù)據(jù)到外部磁盤驅(qū)動(dòng)器的功能,方便數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)、分析和處理。
性能優(yōu)勢(shì)
動(dòng)態(tài)范圍:動(dòng)態(tài)范圍大于 85dB,能夠在測(cè)量過(guò)程中清晰地分辨不同幅度的信號(hào),對(duì)于微弱信號(hào)和強(qiáng)信號(hào)的測(cè)量都能保持較高的精度。
頻率分辨率:可選 1Hz 頻率分辨率,頻率準(zhǔn)確度高,能夠提供精確的頻率設(shè)置和測(cè)量,滿足對(duì)高精度測(cè)試的需求。
測(cè)試速度:利用頻率合成源進(jìn)行快速掃頻,可迅速完成對(duì)被測(cè)器件在一定頻率范圍內(nèi)的測(cè)量,提高測(cè)試效率。
- Agilent/安捷倫
- KEYSIGHT/美國(guó)是德
- 其他品牌
- TeKtronix/美國(guó)泰克
- R&S/羅德與施瓦茨
- Santec/日本
- EXFO/加拿大
- FLUKE/福祿克
- Anritsu/安立
- Keithley/美國(guó)吉時(shí)利
- YOKOGAWA/日本橫河
- SRS/斯坦福
- HP/惠普
- FUJIKURA/藤倉(cāng)
- ADCMT/愛(ài)德萬(wàn)
- 美國(guó)力科
- HIOKI/日本日置
- LitePoint/萊特波特
- SUMITOMO/住友
- OLYMPUS/奧林巴斯
- Ceyear/思儀
- KIKUSUI/日本菊水
- BCHP/中惠普
- 古河蓄電池
- Bristol/美國(guó)
- SHIMADZU/島津
- ITECH/艾德克斯
- General Photonics
- Newport/美國(guó)
- Bruker/布魯克
- SPIRENT/思博倫
- RIGOL/普源
- GWINSTEK/中國(guó)臺(tái)灣固緯
- SIGLENT/鼎陽(yáng)
- YINUO/一諾儀器
- Waters/沃特世
- PICOTEST/中國(guó)臺(tái)灣儀鼎
- UNI-T/優(yōu)利德
- Ophir
- BIRD/美國(guó)鳥(niǎo)牌
- Chroma/致茂
- KEYENCE/基恩士
- AMETEK/阿美特克
- ESPEC/愛(ài)斯佩克
- OMRON/歐姆龍
- SPECTRUM/上海光譜
- 中國(guó)臺(tái)灣博計(jì)
- EEC/中國(guó)臺(tái)灣華儀
- Siemens/西門子
- AP(Audio Precision)/美國(guó)
- 同惠電子
- HAMEG/德國(guó)惠美
- Nikon/日本尼康
- Hitachi/日立
- TDK-LAMBDA/日本
- OceanOptics/海洋光學(xué)
- 常州安柏
- NOISEKEN
- 盛普 SP
- DEIF/丹麥
- Quantum Opus