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布魯克Contour Elite I3D光學顯微鏡
臺式表面的的成像和計量功能
布魯克的Contour Elite K 3D光學顯微鏡為表面計量性能的設計和成本效率設定了新的行業標準。Contour Elite K具有出色的粗糙度和2D / 3D測量功能，高保真成像，以及業界進的用戶友好界面，可在緊湊的系統中提供毫不妥協的計量和高保真成像。
Contour Elite K提供了白光干涉測量法的所有優點，而沒有傳統的共聚焦和標準數字顯微鏡的不足。
布魯克Contour Elite I 3D光學顯微鏡
的價值和可擴展的選擇
Contour Elite K針對實驗室和工廠車間的生產率進行了優化。硬件和軟件相結合，可以以比同類計量能力低數千美元的價格，簡化對光學性能的訪問。Contour Elite K可以通過現場升級的附件輕松擴展到標準平臺之外，包括：
毫不妥協的計量設計
簡化的系統可提供定量計量所需的低噪聲，高速，準確和精密的結果。通過使用多個目標和集成的特征識別功能，可以在各種視角下以亞納米級的垂直分辨率跟蹤特征，從而為非常不同的行業中的質量控制和過程監控應用程序提供與比例無關的結果。
精確的測量和高保真成像
Contour Elite K在工業3D光學顯微鏡中可提供的橫向分辨率，即使在小的結構上也能增強量化邊緣變化的能力。Contour Elite的高保真成像可顯示特定表面細節，否則將很難看到或無法看到這些細節，并使用戶能夠根據顏色或灰度信息對數據進行細分，以快速選擇感興趣的區域并從這些特定區域收集關鍵的計量數據。
強大的分析功能，易于使用
Contour Elite K具有簡化的用戶界面，可大化用戶效率并簡化測量和分析。Vision 64將智能架構與直觀的可視化工作流程以及廣泛的用戶定義的自動化功能相結合，可實現快速，全面的數據收集和分析。新的Vision64 Map通過開放簡化的對11種語言的自動報告的訪問權限，進一步擴展了這些功能。
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