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近期,公司出貨了一臺(tái)推拉力測(cè)試機(jī),是專門用于進(jìn)行QFN封裝可靠性測(cè)試。在現(xiàn)代電子制造領(lǐng)域,QFN(Quad Flat No-leads)封裝因其體積小、散熱性能優(yōu)異和電氣性能突出等優(yōu)勢(shì),被廣泛應(yīng)用于各類集成電路中。然而,QFN封裝的可靠性直接影響到電子產(chǎn)品的長期穩(wěn)定性和使用壽命。為確保QFN封裝焊點(diǎn)的機(jī)械強(qiáng)度和焊接質(zhì)量,推拉力測(cè)試成為重要的檢測(cè)手段。
科準(zhǔn)測(cè)控小編為您詳細(xì)介紹如何利用Alpha W260推拉力測(cè)試機(jī)進(jìn)行QFN封裝的可靠性測(cè)試。本文將涵蓋測(cè)試原理、相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)、儀器特點(diǎn)以及詳細(xì)的測(cè)試流程,幫助工程師和質(zhì)檢人員更好地評(píng)估QFN封裝的可靠性,確保產(chǎn)品符合行業(yè)要求。
一、測(cè)試原理
推拉力測(cè)試(Push-Pull Test)是一種用于評(píng)估電子元器件焊點(diǎn)或引線機(jī)械強(qiáng)度的測(cè)試方法。在QFN封裝測(cè)試中,主要通過施加垂直或水平方向的力,測(cè)量焊點(diǎn)或芯片與基板之間的結(jié)合強(qiáng)度。測(cè)試結(jié)果可用于判斷焊接工藝是否合格,是否存在虛焊、冷焊或焊點(diǎn)開裂等缺陷。
1、推力測(cè)試(Shear Test):使用測(cè)試探針對(duì)QFN封裝的側(cè)面施加推力,直至焊點(diǎn)斷裂,記錄最大推力值。
2、拉力測(cè)試(Pull Test):適用于評(píng)估芯片與基板之間的粘接強(qiáng)度,通常使用膠粘或?qū)S脢A具進(jìn)行垂直拉力測(cè)試。
二、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
QFN封裝的推拉力測(cè)試需遵循相關(guān)國際或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),常見的標(biāo)準(zhǔn)包括:
IPC/JEDEC J-STD-020:非氣密性表面貼裝器件的可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
IPC-9701:表面貼裝焊點(diǎn)的機(jī)械性能測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
MIL-STD-883:微電子器件可靠性測(cè)試方法,適用于高可靠性應(yīng)用場(chǎng)景。
JESD22-B117:焊球剪切測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),適用于QFN等無鉛封裝測(cè)試。
測(cè)試參數(shù)的設(shè)定(如測(cè)試速度、測(cè)試位置、力值范圍等)需根據(jù)具體封裝尺寸和材料進(jìn)行調(diào)整。
三、測(cè)試儀器
1、Alpha W260推拉力測(cè)試機(jī)
A、設(shè)備介紹
Alpha-W260自動(dòng)推拉力測(cè)試機(jī)用于為微電子引線鍵合后引線焊接強(qiáng)度測(cè)試、焊點(diǎn)與基板表面粘接力測(cè)試及其失效分析領(lǐng)域的專用動(dòng)態(tài)測(cè)試儀器,常見的測(cè)試有晶片推力、金球推力、金線拉力等,采用高速力值采集系統(tǒng)。根據(jù)測(cè)試需要更換相對(duì)應(yīng)的測(cè)試模組,系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別模組,并自由切換量程。
B、推刀或鉤針
C、常用工裝夾具
四、測(cè)試流程
步驟一、樣品準(zhǔn)備
選取待測(cè)QFN封裝樣品,確保表面清潔,無氧化或污染。
根據(jù)測(cè)試需求,選擇推力或拉力測(cè)試模式。
步驟二、設(shè)備校準(zhǔn)
開機(jī)預(yù)熱,進(jìn)行力傳感器和位移校準(zhǔn),確保測(cè)試精度。
步驟三、測(cè)試參數(shù)設(shè)置
測(cè)試模式:選擇推力(Shear)或拉力(Pull)模式。
測(cè)試速度:通常設(shè)定為0.1~1.0 mm/s,具體依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)或工藝要求。
測(cè)試位置:調(diào)整探針或夾具位置,確保對(duì)準(zhǔn)QFN焊點(diǎn)或芯片邊緣。
步驟四、執(zhí)行測(cè)試
啟動(dòng)測(cè)試程序,探針或夾具按設(shè)定參數(shù)施加力,直至焊點(diǎn)斷裂。
設(shè)備自動(dòng)記錄最大力值、斷裂曲線等數(shù)據(jù)。
步驟五、數(shù)據(jù)分析
檢查力-位移曲線,判斷焊點(diǎn)斷裂模式(如界面斷裂、焊料斷裂等)。
對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)值,評(píng)估焊接質(zhì)量是否合格。
步驟六、測(cè)試報(bào)告生成
導(dǎo)出測(cè)試數(shù)據(jù),生成包含力值、斷裂模式、合格判定的完整報(bào)告。
五、結(jié)論
QFN封裝的可靠性直接影響電子產(chǎn)品的長期穩(wěn)定性,而推拉力測(cè)試是評(píng)估其焊接質(zhì)量的重要手段。Alpha W260推拉力測(cè)試機(jī)憑借高精度、多功能和智能化特點(diǎn),為QFN封裝的可靠性測(cè)試提供了高效、準(zhǔn)確的解決方案。通過科學(xué)的測(cè)試流程和嚴(yán)格的標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行,可有效提升產(chǎn)品質(zhì)量,降低失效風(fēng)險(xiǎn)。
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