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分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3 參考價：面議
●非接觸式、非破壞性光學式膜厚檢測●采用分光干涉法實現高度檢測再現性●可進行高速的即時研磨檢測●可穿越保護膜、觀景窗等中間層的檢測●可對應長工作距離、且容易安裝...
光波場三維顯微鏡 MINUK 參考價：面議
MINUK是一種可以評估納米量級的透明異物和缺陷的設備，可以單次獲取高度方向的信息，并且可以無損、非接觸、非侵入性地進行測量。此外，還可以高速掃描任何表面并確定...
ZETA電位 · 粒徑測試系統·ELSZneoSE 參考價：面議
本產品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。 根據用途，可以根據需要定制任意數量的必要功能。
ZETA電位 · 粒徑測試系統·ELSEneoSE 參考價：面議
● 可根據用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網眼結構分析、粒徑多角度測定)● 可以用標準流動池連續測量粒徑和zeta電位● 可以測量從稀薄...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統·ELSZneo 參考價：面議
ELSZ series的最zu高級機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量·ELSZ-2000ZS 參考價：面議
●可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑，并可進行分子量測量的檢測裝置。●適用于粒徑測量范圍（0.6nm~10um）,濃度范圍（0.00001%~40%）...
OPTM series 嵌入型 參考價：面議
利用顯微微分光膜厚計OPTM series的高精度、微小光點，在線提供制作晶片圖案后的微小區域測量等膜厚信息。
Load Port對應膜厚測量系統 GS-300 參考價：面議
●Φ支持到300mmEFM單元備用端口的集成●實現嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對齊●支持半導體工藝的高吞吐量要求●支持槽口對齊功能●小尺寸規格●高精度自...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統 參考價：面議
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。
顯微分光膜厚儀 參考價：面議
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 測量項目：?絕.對反射率測量?多層膜解析?光學常數分析（n：折射率，k：消光系數）
熒光量子效率測試系統 參考價：面議
QE-2000熒光量子效率測試系統瞬間測量絕.對量子效率。適用于粉末、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量。通過低雜散光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區域 的雜散...
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