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分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3 參考價：面議
●非接觸式、非破壞性光學式膜厚檢測●采用分光干涉法實現高度檢測再現性●可進行高速的即時研磨檢測●可穿越保護膜、觀景窗等中間層的檢測●可對應長工作距離、且容易安裝...
光波場三維顯微鏡 MINUK 參考價：面議
MINUK是一種可以評估納米量級的透明異物和缺陷的設備，可以單次獲取高度方向的信息，并且可以無損、非接觸、非侵入性地進行測量。此外，還可以高速掃描任何表面并確定...
ZETA電位 · 粒徑測試系統·ELSZneoSE 參考價：面議
本產品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。 根據用途，可以根據需要定制任意數量的必要功能。
ZETA電位 · 粒徑測試系統·ELSEneoSE 參考價：面議
● 可根據用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網眼結構分析、粒徑多角度測定)● 可以用標準流動池連續測量粒徑和zeta電位● 可以測量從稀薄...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統·ELSZneo 參考價：面議
ELSZ series的最zu高級機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量·ELSZ-2000ZS 參考價：面議
●可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑，并可進行分子量測量的檢測裝置。●適用于粒徑測量范圍（0.6nm~10um）,濃度范圍（0.00001%~40%）...
OPTM series 嵌入型 參考價：面議
利用顯微微分光膜厚計OPTM series的高精度、微小光點，在線提供制作晶片圖案后的微小區域測量等膜厚信息。
Load Port對應膜厚測量系統 GS-300 參考價：面議
●Φ支持到300mmEFM單元備用端口的集成●實現嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對齊●支持半導體工藝的高吞吐量要求●支持槽口對齊功能●小尺寸規格●高精度自...
半導體晶圓缺陷檢測儀 參考價：面議
半導體晶圓缺陷檢測儀利用亮場和暗場顯微成像技術，通過自動化的圖像捕捉以及人工智能分析工具，為晶圓表面缺陷的檢測提供了快速且高效的解決方案。
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統 參考價：面議
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。
光電流測試 參考價：面議
光電流測試是一種用于測量器件或材料的光電性能的測試方法，主要應用于半導體器件、光電器件、太陽能電池等領域。
便攜式拉曼光譜儀 參考價：面議
AMOS RU120基本緊湊便攜式拉曼光譜儀是一款獨立的研究儀器，旨在進行光譜測量，其能力達到*端系統的水平。 RU120采用剛性無活動部件設計，無需調整，具有...
高光譜測試系統 參考價：面議
高光譜測試系統基于offner型的凸面光柵分光系統，其原理新穎，相比較其他分光系統具有光學相對孔徑大、色散線性度好、結構 緊湊和圖像成像質量佳等優點。
顯微分光膜厚儀 參考價：面議
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 測量項目：?絕.對反射率測量?多層膜解析?光學常數分析（n：折射率，k：消光系數）
超快瞬態吸收顯微成像系統 參考價：面議
該系統設計與奧林巴斯倒置顯微鏡和高速CMOS相機相結合，用于檢測微納樣品的光激發載流子動力學可視化過程；同時具備微區瞬態反射（透射）光譜和動力學測試功能。系統同...
太陽能電池量子效率測試系統 參考價：面議
太陽能電池量子效率測試系統?Oriel 的 QEPVSI-b 是用于測量量子效率 （QE）（也稱為入射光子到電荷載流子效率 （IPCE）） 的預配置而靈活的解決...
太陽光模擬器 參考價：面議
Oriel Sol3A 太陽光模擬器采用單燈設計，滿足全部 3A 級性能標準，而不影 響其 1 個太陽光強輸出功率。按照慣例，AAA 級的第.一個字母代表光譜匹...
光電流成像 參考價：面議
光電流成像是一種用于表征材料或器件的光電特性的成像技術。該技術通過在器件或材料表面照射光源，并測量其產生的電流信號，來獲得材料或器件的空間分布信息。
探測器光譜響應測試系統 參考價：面議
S-DSR探測器光譜響應測試系統? 寬光譜范圍（200~14000nm可選），適用面廣? 調制法測量技術，提升測量結果信噪比? 開機即用的Turnkey系統設計...
光譜變溫附件/探針臺 參考價：面議
光譜變溫附件/探針臺THMS600 是使用.為廣泛的高精度冷熱臺。其寬泛的溫度范圍（-196°C到 600°C）和升溫速 率（0.1 到 1...
SERS增強試劑 參考價：面議
波銘科儀銷售的多種SERS增強試劑、SERS芯片，均是經過嚴格反復試驗、驗證、摸索制備而成，各項性能指標都很優 良，能滿足大多數生物分子、染料分子及其他分析物分...
熒光量子效率測試系統 參考價：面議
QE-2000熒光量子效率測試系統瞬間測量絕.對量子效率。適用于粉末、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量。通過低雜散光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區域 的雜散...
顯微熒光成像系統 參考價：面議
S-MPL系列顯微熒光成像系統光致發光（photoluminescence）即PL，是用紫外、 可見或紅外輻射激發發光材料而產生的發光，在半 導體材料的發光特性...
組合熒光系統 參考價：面議
組合熒光系統采用模塊化設計，既可實現穩態、瞬態測量，又能實現UV-VIS-MIR的寬范圍測 量。組合熒光系統多種部件可供選擇（光源、探測器、樣品架、變溫模塊等）...
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