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首頁>>上海波銘科學儀器有限公司>>產品展示

  • 非接觸Hall和方塊電阻測試系統 參考價:面議

    非接觸Hal和方塊電陽測試系統,可對GaAs,InP,InAs,GaN,AIN,Si,SiC等各種半導體材料設計的HEMTs,pHEMTs,HBTs,FETs器...
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    方塊電阻
    2025/5/7 12:53:45591
  • SRP 擴展電阻測試 參考價:面議

    SRP 測試系統,采用擴展電阻率技術(SRP),對載流子濃度和電阻率隨深度的變化做快速測試。
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    方塊電阻
    2025/5/7 12:51:181101
  • 準穩態-光致發光測試設備 參考價:面議

    準穩態-光致發光可以將QSS準穩態少子壽命測試和PL光致發光技術相結合,快速獲得樣品的少子壽命分布圖譜信息。
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    光致發光
    2025/5/7 12:49:21528
  • 光致發光檢測設備 參考價:面議

    光致發光主要對材料能帶結構,雜質濃度和缺陷,組分機理以及材料質量進行檢測。WT-2000PL專門針對PL應用開發,具有非接觸,快速,可變溫,光斑等特點。
    型號: WT-2000PL 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    光致發光
    2025/5/7 12:47:34613
  • PV-2000A 光伏多功能掃描系統 參考價:面議

    Semilab PV-2000A是業界功能最(zui)先進的,用于晶硅太陽能電池片生產及光伏工藝研發的非接觸電學表征系統,以滿足硅片到成品電池片不同工藝控制的測...
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    少子壽命
    2025/5/7 12:45:43530
  • 汞探針測試 參考價:面議

    LEI Model2017B,通過汞探針接觸方法,對各類半導體材料的載流子濃度分布進行測試,特別適合GaN.SiC等化合物材料。
    型號: LEI Model... 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    汞探針測試
    2025/5/7 12:44:03417
  • 汞CV測試系統 參考價:面議

    汞CV測試系統,用于對外延或前道工藝中的non-pattemed晶片做汞C-V測試;MCV-530L可測最大200mm的樣品。
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    CV測試
    2025/5/7 12:41:35587
  • CV-1500非接觸CV測試系統 參考價:面議

    CV-1500,用于測試界面和介電層的科研平臺,基于SDI Corona-Kelvin技術,可以進行非接觸C-V/I-V測試。
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    CV測試
    2025/5/7 12:40:03628
  • 深能級瞬態譜測試儀 參考價:面議

    深能級瞬態譜儀(DLTS)是檢測半導體材料和器件缺陷和雜質的最好技術手段,它可以測定各種深能級相關參數,如深能級,俘獲界面,濃度分布等。
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    瞬態譜
    2025/5/7 12:38:21500
  • 納米壓痕測試設備 參考價:面議

    對小體積樣品材料力學性質進行定量化測試的關鍵技術。
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    納米壓痕測試
    2025/5/7 12:36:34526
  • 拉曼光譜分析 參考價:面議

    拉曼光譜用來測試材料應力,摻雜濃度和sheet& pattem等。從散射光的能量轉移,強度和偏振等方面可以獲取樣品豐富信息,如:結晶取向,組分,機械應力,摻雜和...
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    拉曼光譜
    2025/5/7 12:35:01494
  • 原子力顯微鏡 參考價:面議

    原子力顯微鏡使用非常小的探針,掃描樣品表面,在原子尺度探測樣品形貌。Semilab的AFM設備,可靈活配置和測試,具備優異測試穩定性和可靠性。
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    原子力顯微鏡
    2025/5/7 12:32:45581
  • 反射譜成像技術 參考價:面議

    iSR是一種微光斑測試技術,用于實時刻蝕和Halftone工藝中的厚度測試
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    反射譜成像
    2025/5/7 12:31:08392
  • 光譜型橢偏儀 參考價:面議

    光譜型橢偏儀是多功能薄模測試系統,適合各種薄材料的研究。
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    橢偏儀
    2025/5/7 12:27:52777
  • 少子壽命/ μ LBIC變溫測試系統 參考價:面議

    WT-2000MCT/μ LBIC 適用于對超低溫有特殊要求的材料,比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等,它已被廣泛用于化合物材料的缺陷,雜質和...
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    少子壽命LBIC變溫測試
    2025/5/7 12:25:54390
  • WT-2000半導體多功能測試 參考價:面議

    WT-2000提供349nm,904nm,1064nm,1550nm等不同激發光,適合Si,SiC,GaAs,CdZnTe,InGaAs等各種材料電學參數測試。
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    半導體多功能測試
    2025/5/7 12:24:05401
  • WT-1200A 單點式少子壽命測試系統 參考價:面議

    WT-1200A 是單點式少子壽命測試系統,具備無接觸等優點。
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    少子壽命測試
    2025/5/7 12:21:55558
  • 高速相位差測量裝置 RE-200 參考價:面議

    ● 可測從0nm開始的低(殘留)相位差● 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)(相當于世界jie最zui快速的0.1秒以下來處理)● 無驅動部,重復再現性高●...
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    相位差測量
    2025/5/7 12:19:26730
  • 高速LED光學特性儀 LE series 參考價:面議

    ●與產線的控制信號同步●通過光纖的自由的測試系統●實現最短2ms~的光譜測量(LE-5400)●同以往的產品相比,測量演算評價1個周期有可到半分鐘以下的高速機型
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    LED光學特性儀
    2025/5/7 12:17:25663
  • 高靈敏度近紅外量子效率測量系統 QE-5000 參考價:面議

    可以測量0.01%或更低的單線態氧的產生量子產率。單線態氧 (1270 nm) 的簡單直接光譜觀察可在用于生物應用等的水性溶劑中測量。
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    量子效率測量
    2025/5/7 12:15:34723
  • 高感度分光輻射亮度計 HS-1000 參考價:面議

    采用具有高亮度和色度精度的光譜方法(衍射光柵),0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m 2的高亮度都可測量,對應CIE推薦的寬波長范圍...
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    亮度計
    2025/5/7 12:13:22746
  • 量子效率測量系統 QE-2100 參考價:面議

    測量精度高可瞬間測量絕對量子效率(絕對量子收率)可去除再激勵熒光發光 采用了積分半球unit,實現了明亮的光學系統
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    量子效率測量
    2025/5/7 12:11:13986
  • 膜厚量測儀 FE-300 參考價:面議

    薄膜到厚膜的測量范圍UV~NIR光譜分析 高性能的低價光學薄膜量測儀藉由絕對反射率光譜分析膜厚完整繼承FE-3000高gao端機種90%的強大功能無復雜設定,操...
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    膜厚儀
    2025/5/7 12:09:08681
  • 膜厚測量系統 FE-3700/5700 參考價:面議

    可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學常數。除了支持包括下一代尺寸在內的大型玻璃基板外,它還支持 LCD、TFT 和有機 EL。
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    膜厚儀
    2025/5/7 12:07:23461

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