ZEM 20Pro單晶燈絲臺式掃描電鏡 參考價：面議
ZEM 20Pro單晶燈絲臺式掃描電鏡采用單晶燈絲，最高放大36萬倍，分辨率可達3nm。自動亮度對比度、自動聚焦、大圖拼接。超大樣品倉可集成多種原位拓展平臺，滿...
ZEM15C臺式掃描電鏡 參考價：面議
ZEM15C臺式掃描電鏡秉承操作便捷、快速成像、性能穩定的設計目標，澤攸科技自主研發了鎢燈絲ZEM15C臺式掃描電子顯微鏡。
ZEM系列臺式掃描電鏡-原位拉伸一體機 參考價：面議
ZEM系列臺式掃描電鏡-原位拉伸一體機基于自主研發的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表面形貌的變化。
ZEM系列臺式掃描電鏡-能譜一體機 參考價：面議
ZEM系列臺式掃描電鏡-能譜一體機兼顧樣品形貌表征及元素分析功能，體積小巧，操作簡便，安裝無需特殊環境，只需找一張桌子，供電即可工作。
ZEM Ultra場發射臺式掃描電鏡 參考價：面議
ZEM Ultra場發射臺式掃描電鏡 ZEM Ultra臺式掃描電子顯微鏡，繼承了ZEM系列一貫的優良傳統，不僅具有快速成像、全自動操作等特點，還具備出色的抗震...
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量系統，透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統，是在標配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現低溫電學測量或全溫區測量功能。
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統，采用全新的O圈輔助密封設計，更易封裝液體。實驗中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內，池內可以承載一個大氣壓。...
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環境，實現1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸STM-TEM力電一體測量系統 參考價：面議
澤攸STM-TEM力電一體測量系統 是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸STM-TEM光電一體測量系統 參考價：面議
澤攸STM-TEM光電一體測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統 ,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量。
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統 參考價：面議
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統，原位透射電子顯微鏡實驗系統，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境（包括力、熱、光、電等）。
澤攸干式液氦溫區探針臺 LHe-6H-06 參考價：面議
澤攸干式液氦溫區探針臺 LHe-6H-06產品特點，真空腔體：真空度優于610-4 Pa。降溫后優于610-5 Pa。留有2個用戶法蘭接口（KF40可接入氣體或...
澤攸室溫自動探針臺 TZ-H-06 參考價：面議
澤攸室溫自動探針臺 TZ-H-06，高可靠性探針臺系統，主要應用在半導體/微電子， 電子，機電，物理，化學，材料，光電，納米，微機電/MEMs，生物芯片等科學研...
澤攸液氦低溫恒溫器低溫系統 參考價：面議
澤攸液氦低溫恒溫器低溫系統超低震動干式液氦光學低溫恒溫器系統，使用氣體導熱隔震，實現樣品臺納米級的機械穩定性。為有效降低環境震動影響，產品設計安裝在光學隔震平臺...
澤攸手動探針臺系統 參考價：面議
澤攸手動探針臺系統，可定制手動探針臺系統，整套系統包配置有探針臺主體、顯微鏡、針座、探針線纜、探針等。
澤攸低溫液氮探針臺 LN-4H-06 參考價：面議
澤攸低溫液氮探針臺 LN-4H-06產品主要是由真空腔體、探針控制、顯微鏡模塊、變溫樣品臺、進口分子泵組、全旺程真空規、智能溫控儀等組成。
澤攸SEM納米探針臺 參考價：面議
澤攸SEM納米探針臺產品實現了三維空間上的準確定位， 它具有分辨率高，尺寸緊湊，行程大，操作簡單，能在真空下使用等優點，可應于SEM真空腔體內完成各種納米精度運...
澤攸ZP3-4 微納探針臺 參考價：面議
澤攸ZP3-4 微納探針臺 可以快速、準確、穩定、使用場景多樣化、完善的技術解決方案、直觀、方便、高度集成。
全自動臺階儀 JS3000B 參考價：面議
國產全自動臺階儀 JS3000B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結構，提供穩定可靠的重復性測量。JS2000B提供兩個彩色攝像頭對樣品和針尖同時成像，可...
全自動臺階儀 JS2000B 參考價：面議
國產全全自動臺階儀 JS2000B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結構，提供穩定可靠的重復性測量。JS2000B提供兩個彩色攝像頭對樣品和針尖同時成像，...
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