澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量系統，透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統，是在標配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現低溫電學測量或全溫區測量功能。
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統，采用全新的O圈輔助密封設計，更易封裝液體。實驗中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內，池內可以承載一個大氣壓。...
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環境，實現1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸STM-TEM力電一體測量系統 參考價：面議
澤攸STM-TEM力電一體測量系統 是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸STM-TEM光電一體測量系統 參考價：面議
澤攸STM-TEM光電一體測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統 ,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量。
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統 參考價：面議
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統，原位透射電子顯微鏡實驗系統，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境（包括力、熱、光、電等）。
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統，采用全新的O圈輔助密封設計，更易封裝液體。
透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環境，實現1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并可在電學...
透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并可在...
透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統，是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并可...
透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，大大地擴展了透射...
PicoFemto透射電鏡原位高溫力學測量系統 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位高溫力學測量系統，同時集成了力學測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對樣品1000 ℃加熱的同時進行定量的力學測量。
PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統 參考價：面議
PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統是原位透射電子顯微鏡實驗系統，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境（包括力、熱、光、電...
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