目錄:北京儀光科技有限公司>>臺式電鏡&臺階儀&原位分析>>澤攸TEM原位方案(樣品桿)>> 透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)
| 價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 場發(fā)射 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)，是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量，并可在電學(xué)測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。
透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)是在標配的STM-TEM樣品桿上集成光學(xué)模塊，從而實現(xiàn)在透射電鏡中進行原位光電測量或者光譜學(xué)表征研究。
性能指標
透射電鏡指標：
● 兼容電鏡型號及極靴；
● 可選雙傾版本，雙傾電學(xué)測量樣品桿Y軸傾角±25°（同時受限于極靴間距）；
● 保證透射電鏡原有分辨率。
電學(xué)測量指標：
● 包含一個電流電壓測試單元；
● 電流測量范圍：１ nA-30 mA，9個量程；
● 電流分辨率：優(yōu)于100 fA；
● 電壓輸出范圍：普通模式±10 V，高壓模式±150 V；
● 自動電流-電壓（I-V）測量、電流-時間（I-t）測量，自動保存。
掃描探針操縱指標：
● 粗調(diào)范圍：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；
● 細調(diào)范圍：XY方向18 um，Z方向1.5 um；
● 細調(diào)分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。
光纖指標：
● 光纖外徑250 um，保證電鏡系統(tǒng)真空指標；
● 可選光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡；
● 可選SMA接頭、FC接頭。
產(chǎn)品特色
（1）采用雙向光纖，可應(yīng)用于CL光譜、光電探測及電致發(fā)光光譜等研究；
（2）光電一體化解決方案，具有高拓展性；
（3）高穩(wěn)定性，保證電鏡原有分辨率；
（4）很長的壽命；
（5）很低維護成本：設(shè)備配套的針尖制備系統(tǒng)可低成本制備針尖耗材。"爪-球“微動結(jié)構(gòu)已實現(xiàn)模塊化量產(chǎn)，維護成本低；
（6）很大的用戶群：在國內(nèi)擁有近200個高質(zhì)量原位用戶，出口到歐美澳等地。每年，用戶會產(chǎn)出大量高質(zhì)量研究成果。定期組織各類用戶交流活動，搭建學(xué)術(shù)平臺供用戶交流；
（7）成熟的技術(shù)支持網(wǎng)絡(luò)：在安徽、北京、東莞和上海擁有分公司，其他各地擁有若干技術(shù)支持網(wǎng)點，24小時提供技術(shù)支持。
部分國內(nèi)用戶
部分國外用戶
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化工儀器網(wǎng)